環(huán)路電阻測試儀測試操作因素（人為可控的關(guān)鍵影響源）

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操作不規(guī)范是現(xiàn)場測試中精度偏差的主要原因，可通過標準化操作規(guī)避。

接線方式與接觸質(zhì)量

測試夾夾緊程度：測試夾未夾緊被測端子，或端子表面有氧化層、油污，會產(chǎn)生接觸電阻，該電阻會與被測環(huán)路電阻疊加，導(dǎo)致測量值偏大；

接線順序與位置：未按要求將被測線路兩端可靠短接，或短接處接觸不良，會形成額外電阻；長距離測試時，若未將測試夾接在線路同一端，會引入多余線路電阻。

測試電流檔位的選擇

儀器通常提供多檔測試電流（如 1mA/10mA/100mA），檔位選擇需匹配被測電阻范圍，否則會放大誤差：

用小電流測大電阻：電壓信號微弱，易被噪聲干擾，讀數(shù)波動大；

用大電流測小電阻：可能導(dǎo)致被測線路發(fā)熱，金屬電阻隨溫度升高而增大，同時大電流會加劇測試線電阻的影響。

選型原則：小電阻（＜1Ω）選大電流檔，大電阻（＞100Ω）選小電流檔。

測試線長補償功能的啟用

長距離線路測試時，測試線自身的電阻不可忽略：

若未開啟測試線長補償功能，儀器會將測試線電阻計入被測環(huán)路電阻，導(dǎo)致結(jié)果偏大；

開啟補償后，儀器會先測量測試線的固有電阻，再從最終結(jié)果中扣除，大幅降低誤差。

讀數(shù)時機的選擇

被測線路（尤其是長距離線纜）存在電容和電感特性，直流電流施加后，需經(jīng)過一段時間才能達到穩(wěn)定狀態(tài)：

若在電流未穩(wěn)定時讀數(shù)，電壓值會因充放電過程波動，導(dǎo)致電阻測量值不準；

高精度測試需等待 2~5 秒，待顯示屏數(shù)值穩(wěn)定后再記錄。

環(huán)路電阻測試儀外部環(huán)境與被測對象因素（不可忽視的干擾源）

環(huán)境溫度與濕度

溫度影響：金屬電阻的溫度系數(shù)約為 0.4%/℃，環(huán)境溫度偏離校準溫度（通常為 20℃）時，被測線路電阻會隨溫度變化；同時，儀器內(nèi)部的電子元件（如電阻、電容）也會因溫度漂移導(dǎo)致精度下降。

濕度影響：高濕度環(huán)境下，被測端子或測試夾表面會凝結(jié)水汽，導(dǎo)致絕緣電阻下降，出現(xiàn)漏電流，干擾電壓采集；長期高濕度還會加速端子氧化，增大接觸電阻。

電磁干擾

測試現(xiàn)場若存在高壓設(shè)備、變頻器、電焊機等強電磁干擾源，會產(chǎn)生工頻或高頻電磁噪聲：

噪聲會通過電磁感應(yīng)耦合到測試回路，疊加在電壓信號上，導(dǎo)致讀數(shù)跳變；

戶外測試時，靠近高壓線路、通信基站也會引入干擾，需盡量遠離干擾源，或選擇帶抗干擾濾波功能的機型。

被測線路自身狀態(tài)

線路接觸質(zhì)量：被測線路的接頭、短接點若存在氧化、松動、虛接，會產(chǎn)生不穩(wěn)定的接觸電阻，導(dǎo)致測量值偏大且波動；

線路材質(zhì)均勻性：若線路線徑不一致、材質(zhì)混雜（如部分銅芯部分鋁芯），會導(dǎo)致電阻分布不均，整體測量值無法反映真實情況；

線路絕緣狀態(tài)：線路絕緣層破損、受潮，會出現(xiàn)漏電流，相當(dāng)于并聯(lián)了一個額外電阻，導(dǎo)致測量值偏小。

四、 提升測量精度的優(yōu)化措施

選型時優(yōu)先選擇恒流源穩(wěn)定性≤±0.1%、24 位 ADC的高精度機型；

測試前清潔被測端子和測試夾，確保夾緊無松動，長距離測試必須開啟線長補償；

匹配測試電流檔位，等待數(shù)值穩(wěn)定后讀數(shù)；

盡量在 **20℃±5℃、濕度＜60%** 的環(huán)境下測試，遠離強電磁干擾源；

儀器需定期校準（每年一次），校準合格后方可使用。